賽多利斯電子天平作為實驗室精密稱量的核心設(shè)備，其數(shù)據(jù)準確性直接決定實驗結(jié)果的可靠性。校準周期的科學設(shè)定與規(guī)范的期間核查，是保障天平計量性能穩(wěn)定的關(guān)鍵手段，既能規(guī)避稱量偏差導致的實驗誤差，又能符合GLP、ISO等質(zhì)量體系對儀器溯源的要求。基于賽多利斯天平的精度特性與應(yīng)用場景，需建立“分級設(shè)定、動態(tài)調(diào)整”的校準體系及“簡便高效、精準可控”的核查方法。
校準周期的設(shè)定需突破“一刀切”模式，核心是結(jié)合天平精度等級與使用工況動態(tài)調(diào)整。對于萬分之一（0.1mg）及以上精度的分析型天平，如CPA系列，因常用于微量樣品稱量，對環(huán)境變化敏感，基礎(chǔ)校準周期建議設(shè)定為6個月；千分之一（1mg）的精密天平，如BSA系列，若用于常規(guī)樣品稱量且環(huán)境穩(wěn)定，可將基礎(chǔ)周期延長至12個月。使用頻率是重要調(diào)整依據(jù)——每日連續(xù)使用8小時以上的生產(chǎn)車間天平，需將周期縮短30%；而實驗室中每周使用不超過3次的備用天平，可適當延長周期，但最長不超過18個月。
環(huán)境與負載因素需重點考量校準周期。安裝在高溫、高濕或振動環(huán)境（如化工實驗室、生產(chǎn)線旁）的天平，溫度波動易導致傳感器漂移，需將校準周期縮短至常規(guī)的1/2；若天平長期稱量接近最大量程的樣品（如經(jīng)常稱量200g樣品的220g量程天平），傳感器長期處于高負荷狀態(tài)，校準周期應(yīng)控制在3-6個月。此外，天平經(jīng)過搬運、維修或更換關(guān)鍵部件（如稱量盤、傳感器）后，必須立即執(zhí)行校準，且連續(xù)兩次校準數(shù)據(jù)偏差小于0.1d（d為分度值）方可投入使用。
期間核查作為校準周期內(nèi)的補充手段，核心是快速驗證天平計量性能，方法需兼顧科學性與便捷性。每日使用前的基礎(chǔ)核查不可少：首先進行空載校準，按天平“CAL”鍵啟動內(nèi)置校準程序，觀察顯示值是否回歸零點，若零點漂移超過0.2d，需重新校準；其次用標準砝碼進行點核查，選用接近常用稱量范圍的標準砝碼（如常用50g稱量則選用50g砝碼），重復稱量3次，3次測量值的極差應(yīng)不超過0.3d，否則需暫停使用并安排專業(yè)校準。
定期期間核查需強化系統(tǒng)性，每月至少開展一次。采用“三點核查法”：分別用1/3量程、1/2量程、滿量程的標準砝碼進行稱量，記錄各點測量值與標準值的偏差，偏差需控制在天平最大允許誤差（MPE）范圍內(nèi)，如賽多利斯CPA225D天平（220g/0.01mg），100g點的MPE為±0.05mg。同時需進行線性誤差核查，選取5個均勻分布的量程點，計算測量值與標準值的線性回歸方程，相關(guān)系數(shù)R²需大于0.999，確保天平在全量程內(nèi)性能穩(wěn)定。
核查與校準的規(guī)范性需依托記錄與溯源保障。建立
賽多利斯電子天平使用與核查臺賬，詳細記錄每次核查的砝碼值、測量結(jié)果、環(huán)境溫濕度及操作人員；校準必須由具備CNAS資質(zhì)的機構(gòu)執(zhí)行，確保校準證書上的溯源鏈清晰可查。對于核查中發(fā)現(xiàn)的異常，如稱量重復性超差，需先排查環(huán)境因素（如氣流、振動），若排除后仍異常，立即停用并聯(lián)系賽多利斯售后，避免自行拆解調(diào)整。通過科學設(shè)定周期與規(guī)范核查，可將賽多利斯天平的稱量誤差控制在允許范圍內(nèi)，為實驗與生產(chǎn)提供精準數(shù)據(jù)支撐。
